JANDEL（英国）
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Jandel工程有限公司提供了可调节高度探针台的自动Z运动(AFPP)用于进行四点探针测量。AFPP可以用于测量各种各样的小样本大小薄层和300毫米晶圆锭250毫米高(厚的样品安置在请求)。可以使用AFPP独立提供的电源适配器,或者可以动力和由Jandel RM3000使用单一铅连接这两个工具之间。
Jandel工程有限公司提供了可调节高度探针台的自动Z运动(AFPP)用于进行四点探针测量。
AFPP可以用于测量各种各样的小样本大小薄层和300毫米晶圆锭250毫米高(厚的样品安置在请求)。可以使用AFPP独立提供的电源适配器,或者可以动力和由Jandel RM3000使用单一铅连接这两个工具之间。
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可测晶片直径 |
直径d≤300mm |
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可测晶片厚度 |
高度h≤250mm |
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自动停机 |
具有接触到样品的传感器（通过传感器检测接触到样品） |
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手动控制 |
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远程控制 |
Jandel-RM300能够提供电源和样品接触 |
系统配置
组成部件（产品配置）：
1. 测试台——1个
2. AFPP主机——1个
3. 可调节高度的轴杆——1根
4. 四探针探头——1个
5. 电缆线——一根
设备尺寸
1. 可调节高度测试台：W×L×H（mm）320×370×8
2. AFPP主机：W×L×H（mm）64×215×67
3. 可调节高度轴杆:d（mm）19；L（mm）200（可定制最高额高度到1000mm）
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型号 |
尖角（u） |
压力（g） |
间距（mm） |
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A |
40 |
100 |
1 |
|
B |
100 |
100 |
1 |
|
C |
200 |
100 |
1 |
|
D |
500 |
70 |
1 |
|
E |
40 |
200 |
1.59 |
|
F |
40 |
100 |
0.635 |
|
G |
100 |
100 |
0.635 |
|
H |
200 |
100 |
0.635 |
与国外供应商合作，源头采购，保证原装正品，为客户提供整体解决方案。
上海市嘉定区云谷路599弄6号楼912-915室
